Investigation on intra-annual xylem formation in conifers by light and scanning electron microscopy (FE-SEM) - lessons learned

Jukuri

Investigation on intra-annual xylem formation in conifers by light and scanning electron microscopy (FE-SEM) - lessons learned

Jyske, T.; Kalliokoski, T.; Mäkinen, H.; Nöjd, P.; Repo, T.; Fujiwara, T.; Kuroda, K.; Iki, T.; Abe, H. (2011)

Näytä kaikki kuvailutiedot

Viite kuuluu kokoelmiin: